%0 Thesis
%9 Masters
%A Prando, L.
%B ELEDIA Research Center@DISI
%D 2007
%F elediasc12:112
%I University of Trento
%K Inverse Scattering, ACM
%T Sistema per la misura delle caratteristiche dielettriche di substrati planari impiegati nella realizzazione di antenne in micristriscia e dispositivi RF/microonde in generale
%U http://www.eledia.org/students-reports/112/
%X La sintesi di antenne in microsctriscia richiede la conoscenza a priori delle proprietà dielettirche del substrato su cui viene realizzata la struttura radiante. I materiali ‘low cost’ attualmente in commercio molto spesso non sono completamente caratterizzati sul range di frequenze in cui si intende lavorare.ed in alcuni casi presentano delle tolleranze di misura che non sono compatibili con la precisione richiesta in fase di simulazione. Esistono inoltre molti materiali a basso costo, comunemente utilizzati nella realizzazione di sistemi radianti per motivi di economia, che sono caratterizzati solamente a bassa frequenza. Lo scopo del presente progetto è la realizzazione, dopo una attenta analisi dei sistemi di misura attualmente impiegati, di un sistema di misura delle caratteristiche dielettriche di substrati planari per la realizzazione di antenne in microstriscia dispositivi RF/microonde in generale.